产品展示

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  MKY-CF6G-1B可控硅控制器

  MKY-CF6G-1B可控硅控制器 主要参数 触发输出：六路双脉冲列 脉冲电流峰值：800mA 脉冲电压峰值：6V

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  MKY-CF2B-2B可控硅控制器

  MKY-CF2B-2B可控硅控制器 主要参数 触发输出：宽脉冲列 脉冲宽度：180°-α 脉冲峰值：500mA

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  MKY-CSJJ-1可控硅测试夹具

  MKY-CSJJ-1可控硅测试夹具 概述 1.1 适用范围 本测试夹具适用于大电流可控硅和整流元件的电参数测试。 1.2 产品特点 结构简单牢固、使用方便、易于维修。 2 技术参数 2.1 极板直径: 100mm、 2.2 行程：40mm 2..3压力: 10吨 2.4 外型尺寸: 375×165×600mm 2.5 重量: 30kg

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  MKY-DBC-352晶闸管少子寿命测试仪

  MKY-DBC-352晶闸管少子寿命测试仪 适用范围及特点 用于测试可控硅或PN结（二极管）的长基区少子寿命。 数字显示测试结果，自动测试。 主要参数 少子寿命测量范围：0.1-99us 外形尺寸：440X440X150mm 整机重量：10kg

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  MKY-DBC-094晶闸管关断时间测试仪

  MKY-DBC-094晶闸管关断时间测试仪 适用范围及特点 用于测试可控硅的关断时间。 数字显示测试结果，自动完成测试。 主要参数 关断时间测量范围： 5-500us 外形尺寸：600X600X1250mm 整机重量：32kg

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  MKY-DBC-051晶闸管dv/dt测试仪

  MKY-DBC-051晶闸管dv/dt测试仪 适用范围及特点 用于测试普通可控硅、双向可控硅、快速可控硅和可控硅模块的断态电压临界上升率dV/dt。 数字显示断态峰值电压VDM 。 主要参数 测量范围： 断态峰值电压VDM 0-2000V； 电压临界上升率dV/dt 30-1000V/us 外形尺寸：440X440X150mm 整机重量：15kg

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  MKY-DBC-013B晶闸管通态降压测试仪

  MKY-DBC-013B晶闸管通态降压测试仪 适用范围及特点 主要参数 ◇ 用于测试普通可控硅、双向可控硅、快速可控硅、可控硅模块的通态峰值电流ITM和峰值压降VTM ◇ 用于测试整流管的正向峰值电流IFM和峰值压降VFM。 数字显示测试结果，自动测试。 通态峰值电流值测试前可准确设定，并具有良好的测试重复性。 峰值电流测量范围： 100-9000A 峰值压降测量范围： 0-7V

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  MKY-DBC-013AC晶闸管伏安特性测试仪

  MKY-DBC-013AC晶闸管伏安特性测试仪 主要参数 峰值电流测量范围： 30-3000A 峰值压降测量范围： 0-7V 外形尺寸： 440×440×150mm 2箱 整机重量： 35kg

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